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微電阻率成像儀數(shù)值模擬與分析
目前,很多油氣田已經(jīng)進(jìn)入開發(fā)后期,勘探開發(fā)中常常遇到復(fù)雜的地層結(jié)構(gòu)等問題,需要高分辨率的探測儀器,而陣列測井儀器在此方面得到了很好的應(yīng)用.文章研究了用于復(fù)雜地層成像的微電阻率成像儀,在給出了成像儀電極系結(jié)構(gòu)、電阻率測量原理之后,針對該儀器的復(fù)雜激勵條件和復(fù)雜邊界條件,采用三維有限元方法,利用雙共軛梯度方法求解矩陣方程,進(jìn)行非均勻介質(zhì)中微電阻率成像儀的數(shù)值模擬.在成像儀所有的結(jié)構(gòu)參數(shù)中,幾何尺寸發(fā)生改變后,有可能影響測量結(jié)果的儀器參數(shù)包括金屬芯棒的長度、絕緣棒的長度、回路電極的長度、極板的長度和寬度.相對而言,金屬芯棒、絕緣棒和回路電極的長度對探測深度的影響較小,而極板的長度和寬度影響較大.最后,就這兩個儀器結(jié)構(gòu)參數(shù)對儀器探測深度的影響等問題進(jìn)行了分析,并給出了不同幾何尺寸條件下成像儀的探測深度結(jié)果.
作 者： 陳愛新 Chen Aixin 作者單位： 北京航空航天大學(xué)電子信息工程學(xué)院 刊 名： 天然氣工業(yè) ISTIC PKU 英文刊名： NATURAL GAS INDUSTRY 年，卷(期)： 2006 26(12) 分類號： P61 關(guān)鍵詞： 非均勻介質(zhì) 電阻率 成像 數(shù)值模擬 有限元法 探測深度【微電阻率成像儀數(shù)值模擬與分析】相關(guān)文章：
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