高溫漫反射紅外光譜及探針分子識別分子篩中的羥基

采用高溫漫反射紅外光譜法研究分子篩羥基, 考察了溫度、加熱時間對高溫光譜的影響.該方法結合NH3和C5H5N分子探針在298～823K對磷酸硅鋁分子篩SAPO-34中的羥基進行了表征.結果表明, 3612 cm-1和3597 cm-1吸收峰表征的羥基位于SAPO-34分子篩的晶格中, 歸屬于兩種橋聯(lián)羥基(Si-OH-Al).兩種羥基均具有酸性, 在823K時仍然穩(wěn)定.

作 者： 張平 王樂夫 李雪輝 徐建昌   作者單位： 張平(華南理工大學化工系,廣州,510640;廣州大學環(huán)境科學系,廣州,510400)

王樂夫,李雪輝,徐建昌(華南理工大學化工系,廣州,510640) 

刊 名： 分析化學  ISTIC SCI PKU 英文刊名： CHINESE JOURNAL OF ANALYTICAL CHEMISTRY  年，卷(期)： 2002 30(9)  分類號： O6  關鍵詞： 磷酸硅鋁分子篩   羥基,漫反射紅外光譜   高溫光譜   分子探針  

【高溫漫反射紅外光譜及探針分子識別分子篩中的羥基】相關文章：

在環(huán)境科學中應用紅外光譜技術04-27

雜原子MFI分子篩羥基結構與Brφnsted酸強度的研究04-28

漫反射光譜法測定環(huán)境樣品中的微量汞04-30

新型含芘熒光探針分子與蛋白質相互作用的光譜研究04-26

胃癌及胃炎的臨床診斷中紅外光譜方法研究04-29

紅外光譜在定量分析中的應用04-28

黃酒總糖含量的中紅外光譜定量檢測04-26

鄰二甲苯分子結構和紅外光譜的DFT研究04-27

利用漫反射光譜鑒定紅粘土中針鐵礦和赤鐵礦04-29

線形四原子分子C2H2的高溫光譜研究04-28