檢測(cè)單個(gè)氣溶膠粒子的薄膜法及其研究進(jìn)展

薄膜法可分為形態(tài)分析法和化學(xué)試劑薄膜法.它們都基于粒子或粒子和化學(xué)試劑薄膜反應(yīng)的生成物的形態(tài)特征通過電鏡來確定粒子的成分、大小和形態(tài).還可根據(jù)采集粒子時(shí)的抽氣速度、采集時(shí)間和粒子的捕捉率推算出大氣中粒子的分布.本文主要結(jié)合作者的研究討論了薄膜法及其研究進(jìn)展.

作 者： 張保安 錢公望 ZHANG Bao-an QIAN Gong-wang   作者單位： 張保安,ZHANG Bao-an(華南理工大學(xué),化學(xué)科學(xué)學(xué)院,廣東,廣州,510640;華南理工大學(xué),環(huán)境科學(xué)與工程學(xué)院,廣東,廣州,510640)

錢公望,QIAN Gong-wang(華南理工大學(xué),制漿造紙工程國家重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室,廣東,廣州,510640) 

刊 名： 分析測(cè)試學(xué)報(bào)  ISTIC PKU 英文刊名： JOURNAL OF INSTRUMENTAL ANALYSIS  年，卷(期)： 2007 26(6)  分類號(hào)： O648.18  關(guān)鍵詞： 薄膜法   單個(gè)粒子   氣溶膠   研究進(jìn)展  

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