航天介質(zhì)材料壽命的電性能評估技術(shù)

由于軌道空間環(huán)境與地球表面環(huán)境存在巨大差異,應(yīng)用在航天環(huán)境的介質(zhì)材料老化機理與一般地表環(huán)境介質(zhì)材料的老化機理完全不同.如何在地面對其進行壽命評估,進而采取材料改性技術(shù),延長航天介質(zhì)材料可靠性與壽命,是擺在相關(guān)科研人員面前的重要課題.在分析航天器介質(zhì)老化機理的前提下,提出采用介電性能、特別是材料的表面帶電與深層帶電與放電性能,結(jié)合機械性能的退變速率對航天介質(zhì)材料進行評估的方法.

作 者： 秦曉剛 鄭曉泉 王立 QIN Xiao-gang ZHENG Xiao-quan WANG Li   作者單位： 秦曉剛,王立,QIN Xiao-gang,WANG Li(蘭州物理研究所,真空低溫技術(shù)與物理國家級重點實驗室,甘肅,蘭州,730000)

鄭曉泉,ZHENG Xiao-quan(西安交通大學(xué),電力設(shè)備電氣絕緣國家級重點實驗室,陜西,西安,710049) 

刊 名： 真空與低溫  ISTIC 英文刊名： VACUUM AND CRYOGENICS  年，卷(期)： 2007 13(4)  分類號： V250.3  關(guān)鍵詞： 空間   介質(zhì)材料   介電性能   放電性能   評估技術(shù)  

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