TiAIN復(fù)合涂層的應(yīng)力分析與研究

采用有限元軟件ANSYS,針對TiAIN涂層形成過程進行了分析,并把仿真結(jié)果與采用曲率法測定的涂層應(yīng)力進行了比較,驗證了該分析方法和仿真模型的正確性及仿真結(jié)果的可靠性;進而應(yīng)用該分析法仿真計算了曲率法不適用的一個典型模型,結(jié)果表明,由于涂層和基體的熱膨脹系數(shù)不同,使得涂層靠近邊緣處的應(yīng)力較小,而在涂層中心位置應(yīng)力達到最大值,且隨著涂層厚度的增加,涂層的應(yīng)力呈下降趨勢,有效地防止了涂層與基體的剝離,具有重要的現(xiàn)實意義.

作 者： 倪江濤 李義鵬 張新明   作者單位： 首都航天機械公司  刊 名： 航天制造技術(shù)  英文刊名： AEROSPACE MANUFACTURING TECHNOLOGY  年，卷(期)： 2008 ""(2)  分類號： V4  關(guān)鍵詞： 曲率法   TiAlN涂層   應(yīng)力分析   ANSYS  

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